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柔性电子制造技术基础-第4讲-PART1-2014-学行智库

柔性电子制造技术基础-第4讲-PART1-2014

本讲课程内容+键合技术↓精密视觉技术+卷到卷传输控制技术+高速高精运动控制技术国际半导体技术发展趋势·多样性More than Moore:DiversificationAnalog/RFBiochips90nmNon-digitalcontent化65n...
集成电路-ch1-学行智库

集成电路-ch1

集成电路(C)的发展1959世界第一块1C诞生于德州仪器和西物电气公司-4个晶体管/芯片30年的发展,经历了从SSI、MSl、LSl、VLS和U儿SI的发展,目前可达到:40亿个晶体管/芯片600MHz~4GHz工作频率-0....
直径12英寸硅单晶抛光片--学行智库

直径12英寸硅单晶抛光片-

中国集成电路China Integrated Circult创新专栏●硅片的快速热处理技术,实现了硅片表面洁净区厚度在10-170μm间可控。●依靠自主技术,并联合国内相关单位,组织完成了适用于半导体生产的高等...
ARM嵌入式系统ARM芯片的应用和选型-学行智库

ARM嵌入式系统ARM芯片的应用和选型

专家论谈表2内置USB控制器的ARM芯片示记录设备时,选用内置LCD控制器的芯片型号ARM内核供应商USB Slave USB Host IIS接口ARM芯片如S1C2410较为适宜。S3C2410ARM920TSamsung211.11PWM输出S3C2400...
内圆切片机设计-学行智库

内圆切片机设计

计划于2005年前,先行完成4条8~12英寸晶圆生产线,以实现年产240万片,产能1.1亿平方英寸的生产目标。以上项目的建设,为硅材料加工行业提供了广阔的市场。以上海规划年产240万片为例,240万片...
测试!芯片测试的意义-学行智库

测试!芯片测试的意义

测试如果故障芯片已经安装到PCB上,可能会造成整个PCB维修甚至更换。这种更换的成本是相当大的·所以,ASIC在出厂前进行完整的测试是相当重要的圆片测试设备非常昂贵·集成块测试设备同样非常昂...
INTEL经典芯片及主板回顾-学行智库

INTEL经典芯片及主板回顾

Intel810芯片组继成功推出Intel BX之后,ntel便下了大赌注全部投在下一代芯片组产品上,这就是I8l0。I8l0不仅仅是ntel首款整合型芯片组产品,同时也是ntel尝试的新式“固件控制中心”架构式设计...
Wet-Process-Introduction-学行智库

Wet-Process-Introduction

Purpose of Wet Cleaning ProcessThrough to a series of processes to make thewafers free from particles,organiccontaminations,metal contamination,surfacemicroroughness and native oxi...
WAT测量项目以及测试方法-学行智库

WAT测量项目以及测试方法

WAT Introduction1.WAT是什么2.WAT系统介绍3.WAT测试项日及方法
厚硅片的高速激光切片研究-学行智库

厚硅片的高速激光切片研究

830光学精密工程第14卷Experimental results show that the cross section is fine in narrow groove and excellent repeatabilityprecision,it is more better than that of other conventiona...