CH3-硅片加工倒角星星6天前发布关注私信2.35MB87页0445CH3-硅片加工倒角此内容为付费资源,请付费后查看¥金币12¥金币18黄金会员¥金币9超级会员免费登录购买付费资源 第1页 / 共87页 第2页 / 共87页 第3页 / 共87页 第4页 / 共87页 第5页 / 共87页 试读已结束,还剩82页,您可下载完整版后进行离线阅读 © 版权声明本素材源于网络采集或用户分享,版权归属原作者。平台仅提供存储及技术服务,所收费用用于服务器及运营成本,不包含版权授权。若您认为内容侵权,请邮件至【hackerxyyp@qq.com】提交权属证明,我们将在48小时内下架处理。THE END信息技术# 电子# 半导体 文本预览 切片过程的评估■定向的准确性切割出的硅片最小厚度、厚度均匀性■表面参数一平整性,弯(翘)曲度,碎裂■结构参数—损伤层(如晶格畸变),应力分布~30um洁净性(加工带来的污染)—金属、有机、表面部分氧化层切割效率 查看更多 收起部分 喜欢就支持一下吧点赞5 分享QQ空间微博QQ好友海报分享复制链接收藏
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