第三章-封装与测试技术ok星星6天前发布关注私信0.62MB35页04814第三章-封装与测试技术ok此内容为付费资源,请付费后查看¥金币12¥金币18黄金会员¥金币9超级会员免费登录购买付费资源 第1页 / 共35页 第2页 / 共35页 第3页 / 共35页 第4页 / 共35页 第5页 / 共35页 试读已结束,还剩30页,您可下载完整版后进行离线阅读 © 版权声明本素材源于网络采集或用户分享,版权归属原作者。平台仅提供存储及技术服务,所收费用用于服务器及运营成本,不包含版权授权。若您认为内容侵权,请邮件至【hackerxyyp@qq.com】提交权属证明,我们将在48小时内下架处理。THE END信息技术# 电子# 半导体 文本预览 3.1系统封装一、集成电路的封装方法双列直插式(DIP:Dual In-line Package)表面安装封装(SMP:Surface Mounted Package)球型阵列封装(BGA:Ball Grid Arrag)芯片尺寸封装(CSP:Chip Scale Package)晶圆级尺寸封装(WLP:Vafer Level CSP)薄型封装(PTP:Paper Thin Package)多层薄型封装(Stack PTP)棵芯片封装(COB,Flip chip)VLS集成电路和系统设计 查看更多 收起部分 喜欢就支持一下吧点赞14 分享QQ空间微博QQ好友海报分享复制链接收藏
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