第三章-封装与测试技术ok

第三章-封装与测试技术ok-学行智库
第三章-封装与测试技术ok
此内容为付费资源,请付费后查看
¥金币12¥金币18
付费资源

第1页 / 共35页

第2页 / 共35页

第3页 / 共35页

第4页 / 共35页

第5页 / 共35页
试读已结束,还剩30页,您可下载完整版后进行离线阅读
© 版权声明
THE END
3.1系统封装一、集成电路的封装方法双列直插式(DIP:Dual In-line Package)表面安装封装(SMP:Surface Mounted Package)球型阵列封装(BGA:Ball Grid Arrag)芯片尺寸封装(CSP:Chip Scale Package)晶圆级尺寸封装(WLP:Vafer Level CSP)薄型封装(PTP:Paper Thin Package)多层薄型封装(Stack PTP)棵芯片封装(COB,Flip chip)VLS集成电路和系统设计
喜欢就支持一下吧
点赞14 分享
评论 抢沙发

请登录后发表评论

    暂无评论内容