晶圆及芯片测试

6天前发布

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THE END

信息技术
# 电子 # 半导体

SubthresholdGate LeakageLeakageGateSourceDrainn土Reverse BiasedJunction BTBTBulk50%Must stop40%at50%30%20%10%0%一◆◆◆↓◆一1.510.70.50.350.250.180.130.090.070.05Technology (u)芯片测试：ATE测试项目来源，边界扫描

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